回到局裡，技術隊對現場提取的痕跡進行了初步彙報。
展櫃鎖孔內的細微劃痕，確認是專業開鎖工具造成。
窗戶插銷末端的細微勒痕，經過高倍顯微鏡觀察，確認存在尼龍類纖維殘留！證實了陸野關於“用線偽造密室”的推測！
現場提取到的幾枚模糊指紋，經過比對，大多是吳老伯和之前工作人員的，暫時未發現陌生指紋。
地麪灰塵未能提取到有效的足跡模型。
雖然有了進展，但直接指向嫌疑人的證據仍然缺乏。僅憑開鎖技術和偽造密室的手法，排查範圍依然很大。
陸野決定動用係統的更高級功能，對現場進行一次徹底的數字重建，尤其是那扇可疑的窗戶和插銷，希望能發現更多被忽略的細節。
【啟動現場三維重建（進階模式-微觀痕跡聚焦）...需消耗精力點15。是否繼續？】
（陸野：是！）
【精力點-15。當前精力點：730。（注意：精力值偏低）】
【開始掃描...環境數據采集...構建高精度三維模型...重點聚焦西側窗戶及插銷區域...放大倍率提升...】
【模型構建完成。開始渲染微觀痕跡...】
腦海中，一個極其精細的、彷彿實物等比例縮小的三維模型緩緩生成。視線可以無限拉近，甚至能看到木頭纖維的紋理和灰塵的分佈。
模型重點標註了那扇西側窗戶。插銷被高亮顯示，末端的勒痕被放大，甚至可以清晰看到尼龍纖維殘留物鑲嵌在木頭細微裂縫中的形態。
陸野操控著視角，沿著插銷的軌跡移動。忽然，在窗框內側，靠近插銷孔洞的下邊緣，一個極其不起眼的位置，模型標註了一個新的紅點。
【發現異常：窗框木質表麵，距插銷孔洞下緣約0.5厘米處，有一處極其微小的、深色的點狀凹痕，直徑不足1毫米，深度極淺，內嵌有極微量非木質的硬物顆粒。】
【分析：該凹痕形態符合受到尖銳細桿狀物體尖端垂直輕微撞擊所致。非自然形成。硬物顆粒成分疑似...水泥碎屑？】
一個細微的、幾乎可以忽略不計的撞擊點？裡麵還有水泥碎屑？
這意味著什麼？
陸野仔細觀察著這個點的位置和形態。它位於插銷孔洞的下方。如果竊賊是從窗外用線操作插銷，這個點...
他猛地想到一種可能性：竊賊是否使用了某種自製的、帶有一個細小尖銳支點的工具？這個支點頂在窗框上，作為槓桿或引導裝置，方便他更精準地用線控製插銷的滑動？而這個支點不小心在窗框上留下了這個微小的撞擊痕，支點上沾染的室外水泥碎屑也因此殘留了下來？
如果這個推測成立，那麼竊賊對這套操作手法的熟練度可能並不像想象中那麼高，或者當時操作環境很暗、很匆忙。而且，這個痕跡表明，竊賊當時確實就在那扇窗外操作！
這個發現，雖然微小，卻至關重要。它進一步證實了偽造密室的手法，並且提供了一個可能的物證方向——那個自製工具，以及工具上可能沾染的、來自思惠堂窗外的微量物質（比如水泥、泥土、花粉等）。